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OmniScan X3

Representaciones TFM con súper detalles
La combinación del procesamiento en vivo de la envolvente mediante el método de focalización total (TFM, siglas en inglés) del detector de defectos OmniScan™ X3, junto con la resolución de cuadrícula de hasta 1,024 × 1,024 y la visualización de los colores vibrantes, hacen destacar las representaciones TFM gracias a sus detalles excepcionales. Los defectos aparecen nítidos y claros con alta resolución

Confirmación anticipada de cobertura
La herramienta, denominada Mapa de influencia acústica (AIM), le proporciona un modelo visual instantáneo de la sensibilidad en función de su modo, parámetros y reflectores simulados.
Esta herramienta permite visualizar el efecto de un grupo de ondas (en el modo TFM), observar los puntos de detención de la sensibilidad y determinar su plan de escaneo consecuentemente.
Detección en fase temprana del HTHA
Las capacidades avanzadas de representación del equipo se traducen en una detección más puntual y optimizada del ataque por hidrógeno a alta temperatura (HTHA) a fin de permitirle una detección en fase temprana de los mecanismos de deterioro, sin duda, en el momento más importante.

Interpretación y dimensionamiento de defectos facilitados
Hasta cuatro modos en TFM que proporcionan representaciones a partir de diferentes ángulos. Con esta información, usted puede sentir mayor confianza al identificar defectos y determinar su profundidad.

Tecnología Phased Array mejorada

  • Innovaciones dedicadas a la eficiencia
  • Dos veces tan rápido como el detector de defectos OmniScan™ MX2 (frecuencia de repetición de impulso)
  • Menú exclusivo para la difracción de tiempo de vuelo (TOFD) a fin de generar un proceso de trabajo más ágil
  • Rápida calibración del ultrasonido multielemento (Phased Array) mejorada que atenúa frustraciones
  • Alto rango de amplitud al 800 % que reduce la necesidad de un doble escaneo
  • Soporte integrado para sondas Dual Linear Array™ y Dual Matrix Array™ para agilizar la creación de la configuración

Compatibilidad con los archivos y las configuraciones existentes

  • Sondas y escáneres existentes
  • Archivos de datos MX2 y SX para comparar datos recientes con aquellos antiguos y monitorizar los cambios a través del tiempo
  • Configuraciones MX/MX2/SX para facilitar el cumplimiento normativo de los procedimientos

Fiable y fácil de usar

  • Pase a su trabajo rápidamente El plan de escaneo integrado, la rápida calibración mejorada, y la interfaz de usuario simplificada eliminan pasos innecesarios para poder completar rápidamente y con seguridad su configuración de inspección y emprender rápidamente su trabajo.
  • Si ya es un usuario familiarizado con los productos OmniScan™, la transición desde el MX2 se efectuará en un dos por tres. Si no está familiarizado con los ensayos por ultrasonido multielemento (Phased Array) o el método de focalización total (TFM), el OmniScan X3 es un detector de defectos fácil de aprender.

El mejor ejemplar de sus equipos de inspección

El detector de defectos OmniScan™ X3 ofrece herramientas que han sido dispuestas para ayudarle a completar su trabajo de manera eficiente. Su serie de aplicaciones comprende las soldaduras, las tuberías, las aleaciones resistentes a la corrosión, el mapeo de la corrosión, la inspección de ataque por hidrógeno a alta temperatura (HTHA), la detección de grietas progresivas, la inspección de materiales compuestos, los procesamientos de imágenes de fallas/ defectos y mucho más.

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