La ICP-OES (espectrometría de emisión óptica con plasma acoplado inductivamente) es una técnica que permite determinar la composición de los elementos en muestras mediante un plasma de argón y un espectrómetro. Se utiliza principalmente para muestras líquidas. Para analizar la muestra, es necesario convertirla en un aerosol («nebulización») que se inyecta en el plasma. Las muestras sólidas pueden analizarse directamente si se dispone de un método de vaporización mediante ablación láser o vaporización electrotérmica (ETV). Las altas temperaturas del plasma son suficientes para atomizar e ionizar la muestra y proporcionar la energía necesaria para la excitación. Para un análisis práctico con ICP-OES, se requieren varios componentes esenciales:
- Un sistema de muestreo diseñado para introducir la muestra en el plasma.
- Una fuente de energía para atomizar/ionizar la muestra y excitar los átomos e iones para la emisión de radiación.
- Una óptica de alta resolución para observar las emisiones del plasma y separar y aislar las longitudes de onda específicas emitidas por los elementos a medir.
- Un sistema de detección para medir la intensidad de las emisiones luminosas.
- Un sistema electrónico para adquirir las señales del detector y controlar las funciones del espectrómetro.
- Un ordenador con software para calcular y mostrar los espectros de emisión y los valores de concentración.
La tecnología de fluorescencia de rayos X (XRF) proporciona uno de los métodos analíticos más sencillos, económicos y precisos para la determinación de la composición química de numerosos tipos de materiales. Es no destructiva y fiable, requiere muy poca o ninguna preparación de la muestra y es adecuada para el análisis de muestras sólidas, líquidas y en polvo. Según el analizador, el rango de elementos abarcado comienza con el carbono (6) para un análisis cualitativo y comienza con el flúor (9) para un análisis cuantitativo. El americio (95) es el elemento con el mayor número atómico abarcado. La XRF proporciona límites de detección sub-ppm para muchos elementos; también puede medir concentraciones de hasta el 100 % de forma sencilla y simultánea.
La espectroscopia de emisión óptica (EEO) por chispa de arco es el método de análisis utilizado por los analizadores de metales estacionarios de SPECTRO.
El principio del método de análisis de los analizadores de metales portátiles, móviles y estacionarios de SPECTRO es la espectroscopia de emisión óptica (EEO por chispa de arco). La muestra se vaporiza con la sonda de prueba mediante una descarga de chispa de arco.
Los átomos e iones contenidos en el vapor atómico se excitan y emiten radiación. La radiación emitida se transmite a la óptica del espectrómetro (EEO por chispa de arco) directamente o a través de una fibra óptica, donde se dispersa en sus componentes espectrales. A partir del rango de longitudes de onda emitidas por cada elemento, se mide la línea más adecuada para la aplicación mediante detectores CMOS.
La intensidad de la radiación, proporcional a la concentración del elemento en la muestra, se recalcula internamente a partir de un conjunto de curvas de calibración almacenadas y puede mostrarse directamente como porcentaje de concentración.
La espectroscopia de emisión óptica (EEO) por chispa de arco es el método de análisis utilizado por los analizadores de metales estacionarios de SPECTRO.
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