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¿Qué es el Sirius XHS?

Medidor de espesores por efecto Hall

Radiografía Computarizada (CR)

Radiografía Digital (DR)

Radiografía con película

Equipos y sistemas para análisis de lubricantes, combustibles, refrigerantes

Espectrómetros de chispa para metales (Arc Spark OES)

Espectrómetros XRF

Espectrómetros ICP-MS

Espectrómetros ICP-OES

Equipos para MFL

Detectores de fallas por ECT, ECA, RFT, NFL, MFL e IRIS

Inspección de cables de acero

Generadores y detectores de RX

Líquidos Penetrantes y Partículas Magnetizables

Consumibles para Metalografía

Sistemas para adquisición de datos

Detección de fugas

Lámparas y linternas UV

Cámaras climáticas y equipos de simulación ambiental

Impresoras 3D con material metálico

Equipos nucleares y no nucleares para ensayos físicos en sector vial

Celdas de carga especiales y transductores para calibración

Espectrómetros portables y estacionarios

Strain gages

Inspección de revestimientos

Transductores

Soluciones para control de procesos

Máquinas de medir por coordenadas por contacto y ópticas

Máquinas de ensayo estáticas y dinámicas avanzadas

Detectores de fallas por Phased Array, TOFD, FMC / TFM y PCI

Videoscopía y Boroscopía Industrial

Sistemas integrados de inspección

Sondas y palpadores para END

Escáneres y crawlers para UT, Phased Array, TOFD y TFM

Medidores de espesores por Ultrasonido

Detectores de fallas por Ultrasonido